MEMS Cantilever Probe Card

全球首創開發 DSLR CMOS 影像感測器檢測用微機電探針卡(MEMS Probe Card)
全球首創開發 Automotive CMOS 影像感測器檢測用微機電探針卡(MEMS Probe Card)
全球首創開發 64 DUT CMOS CMOS 影像感測器檢測用微機電探針卡(MEMS Probe Card)
全球首創開發 169 DUT CMOS 影像感測器檢測用 FWC(Full Wafer Contact) 微機電探針卡(MEMS Probe Card)

通過應用半導體製程的精密MEMS工藝技術，實現 3D MEMS Cantilever Probe Array 、雜訊低且電性特性優秀，適用於CMOS 影像感測器及 DRAM 半導體檢測。
Multi-site 擴張最大化，可大幅提高顧客的晶圓測試效率，特別是引領CMOS 影像感測器測試的高端微機電探針卡市場。

Application

CMOS Image Sensor (Diffuser Type)

CMOS Image Sensor (Lens Type)

CMOS Image Sensor for DSLR

Automotive CMOS Image Sensor

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