DDIC COF Package Test Probe Card

国内最早的ND4 测试设备用 COF Package 测试探针卡商用化
应用 MEMS Vertical Probe技术的 3 DUT 探针卡开发

DDIC 半导体搭载于最新的Mobile、Flexible Display产品上,使用Chipon Film(COF) Package制造。 用于COF Package的探针卡主要采用Cantilever Probe制造,拥有High Speed、Multi-site等特性,满足客户需求的世界最高水平技术。

Types of Product

Epoxy Cantilever Type

MEMS Vertical Type