MEMS Cantilever Probe Card

全球首创开发 DSLR CMOS 图像传感器检测用微机电探针卡(MEMS Probe Card)
全球首创开发 Automotive CMOS 图像传感器检测用微机电探针卡(MEMS Probe Card)
全球首创开发 64 DUT CMOS CMOS 图像传感器检测用微机电探针卡(MEMS Probe Card)
全球首创开发 169 DUT CMOS 图像传感器检测用 FWC(Full Wafer Contact) 微机电探针卡(MEMS Probe Card)

通过应用半导体制程的精密MEMS工艺技术，实现 3D MEMS Cantilever Probe Array 、杂讯低且电性特性优秀，适用于CMOS 影像感测器及 DRAM 半导体检测。
Multi-site 扩张最大化，可大幅提高顾客的晶圆测试效率，特别是引领CMOS 影像感测器测试的高端微机电探针卡市场。。

Application

CMOS Image Sensor (Diffuser Type)

CMOS Image Sensor (Lens Type)

CMOS Image Sensor for DSLR

Automotive CMOS Image Sensor

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